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IC测试过程中会损坏元器件吗?

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如果你还这么认为,那么你就大错特错啦。
其实,测试时芯片会通过测试座和测试机台进行连接,而测试座是定制的,只起到连接的作用,芯片和测试座是随意连接拆装的,这个过程对芯片是没有任何损坏的。并且我们在测试的过程中,测试人员也会采取专业的防静电设施,如佩戴静电指套,静电护腕等,这样避免了静电对芯片的损伤。另外,也有个别的测试会是破坏性的试验,如:DECAP试验和ESD试验等,对于这种破坏性试验,在测试前我们都会跟客户进行确认,取得客户认可我们才会进行。所以,大家不必担心测试对芯片造成损伤。


1楼2013-03-19 14:42回复
    绝大多数测试项目都不会损坏的,是无损检测,除了化学开盖这种破坏性活动。


    3楼2017-05-04 12:00
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      请问我要开盖后,里面我想看的东西,拍照收费吗?


      4楼2017-07-04 19:12
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        测试座起到连接导通作用,采用进口探针,而上盖的压块也是根据IC的厚度特定的。所以不会对芯片造成任何损伤。
        想具体了解IC测试座的可以加我V:一三六三一五三八五八七。


        6楼2018-08-27 17:33
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