1. 服务内容
对Si、SiGe、SiC、II-VI、III-V半导体等半导体材料的材料质量、成分、光电特性、微观结构等进行测试和表征服务。
2. 检测项目：
1) 材料质量：XRD、HRXRD、XRD mapping、AFM、TEM等
2) 成分分析：XRD、AES、XPS、EDX、SIMS、Raman等
3) 微观结构：SEM、FIB-SEM、FIB-TEM、EBSD等
4) 光学特性：PL（光致发光谱）、TRPL（时间分辨光致发光光谱）、深紫外发光光谱测试、紫外可见分光光度计、CL（阴极发光）等
5) 电学特性：四探针测试、霍尔效应、C-AFM、EL（电致发光）、低温强磁场物性测试系统（EMMS）等
3. 实验室资质：
CNAS资质证书，CMA资质证书，ISO资质证书等
4. 服务方式：
1) 标准检测及认证服务：可根据相应国家或行业标准提供检测和测试报告出具服务。
2) 根据客户需求，提供定制化单项或多项整包检测服务。