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牛津/日立总代理-深圳市谱赛斯科技有限公司-测厚仪源头厂家

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日立&牛津 的测量和分析仪器广泛应用于各个领域,可满足客户对高精度、高可靠性测量和操作简便的需求。我们通过专业的咨询服务为客户提供佳的解决方案,即从第一次接触开始,不断沟通,直至达到定制化服务的理念。这些紧密合作与我们的创新驱动力不断结合,为形成新的测量解决方案奠定了坚实的基础
X-Strata920的特点:
测量范围为钛同时测量5层镀层(含基材镀层),15种元素共存校正;
进行非接触、非破坏的能量色散X射线荧光(EDXRF)分析,进行无损测量;
Ti22---铀U92间各元素;
1.测量时间短,测量时间约10秒,快速得出测量结果;
2.测量结果报告可直接打印、输出到PDF、Excel文档;
3.报告可包含:数据、被测样品点图片、各种统计报表、客户信息;
4.系统安全有:X射线警示灯、X射线锁、红色急停开关、样品室开闭门传感器、光闸传感器、使用者和管理员分级密码管理等;
5.贵重金属分析和金纯度检查(即Au karat评价);
6.操作简便,一键定焦,有效避免人为操作误差;
7.提供NIST认证的标准片;
8.享有全球的服务与支持。
测量性能:
测厚范围:取决于具体的应用。
测量精度:
1.膜厚≤20μin时,测量误差值为:第一层(最上层)±1μin,第二层±2μin,第二层±3μin
2.膜厚>20μin时,测量误差值为:第一层(最上层)±5%,第二层±10%,第二层±15%


1楼2020-06-16 11:26回复