多层陶瓷电容器（MLCC）分为根据测量电压而电容变化的高介电常数型以及不会变化的温度补偿型。规定电容时的测量条件分别按照温度补偿性、高介电常数型的JIS标准来规定。
测量条件的设置例
参数 大容量的被测物为Cs-D，小容量的被测物为Cp-D
频率 请参考下表
直流偏压 OFF
信号电平 额定电压以下
测量量程 AUTO
速度 SLOW2
LowZ模式 OFF
※其他为初始设置。
※这是测量范例。由于最适合的条件根据被测物不同会有差异，因此请使用者自行决定。
JIS C5101-21用于表面贴装的定瓷电容器种类1 温度补偿型（CH、C0G等）（IEC30384-21）
参数 额定静电容量 额定电压 测试频率 测试电压※1 直流偏压
C，D（tan δ） C≤1000pF 全部 1MHz或100kHz（标准1MHz） 5Vrms以下 无
C>1000pF kHz或100kHz（标准1kHz）
JIS C5101-22用于表面贴装的定瓷电容器种类2 高介电常数型（B、X5R等）（IEC30384-22）
参数 额定静电容量 额定电压 测试频率 测试电压※1 直流偏压
C，D（tan δ） C≤1000pF 全部 1MHz 1.0±0.2Vrms 无
1000pF<C≤10uF 超过6.3V 1KHz 1.0±0.2Vrms
6.3V以下 1KHz 0.5±0.2Vrms
C>10uF 全部 100Hz或120Hz 0.5±0.2Vrms
※1 测试电压（=外加在测试样品上的电压）是通过输出电阻和测试样品对开路端子电压进行分压的电压。
※2测试电压（=外加在测试样品上的电压）可以通过开路端子电压、输出电阻、测试样品的阻抗进行计算。
※3 测试样品的阻抗不确定时或测量偏差较大的多个测试样品时使用CV模式更方便。
关于高介电常数型的电容
温度特性表示为B、X5R、X7R等的电容中使用了介电常数较高的材料。
高介电常数型的电阻不仅能够实现小型大容量，而且还具有容量根据测试电压和温度变化较大的特点。
测量仪器的介绍
适用于生产线
型号 测量频率 产品特点
3504-40 120Hz，1kHz 最适合用于大容量电容测量通过恒压回路进行高速CV测量
3504-50
3504-60
3506-10 1kHz，1MHz 最适用于小容量电容测量重复精度高
适用于研发、验货等
型号 测量频率 产品特点
IM3570 DC，4Hz~5MHz 分析模式下进行扫频
参数（Cs和Cp）的确定方法
各频率下的阻抗的大致标准（D较小时）
电容的等效电路
大容量的电容：因为C的阻抗较低，所以可以忽略Rp。设为串联等效电路。
小容量的电容：因为C的阻抗较高，所以可以忽略Rs。设为并联等效电路。
一般来说，测量如大容量电容这类低阻抗元件（约100Ω以下）时，使用串联等效电路模式，测量如小容量电容这类高阻抗元件（约10kΩ以上）时，使用并联等效电路模式。约100Ω～10kΩ的阻抗等等效电路模式不确定时，请和元器件的制造商进行确认。
实际的电容如图所示串联的Rs、并联的Rp连接到理想电容C进行工作。通常Rp会非常大（MΩ以上），Rs会非常小（几Ω以下）。理想电容的电抗可以通过电容和频率，按照Xc＝1/j 2πf C[Ω]来计算。Xc较小时，Rp和C并联的阻抗≒Xc。另一方面，Xc较小的话，则不能忽略Rs，因此整体上可以视作Xc和Rs的串联等效电路。Xc较大时则相反，不能忽略Rp，但可以忽略Rs，这样就变成了并联等效电路。
开路电压（V）模式和恒压（CV）模式的区别
开路电压是指测试样品没有进行连接时Hc端子产生的电压。将开路电压用输出电阻和测试样品分压后的电压外加在测试样品上。
恒压（CV）模式下设置测试样品两端的电压。使用IM35xx读取电压的监视值，软件上反馈后作为CV。使用3504-xx的话在硬件（模拟电路）上设置CV，因此可以高速进行恒压测量。3506-10虽然仅有开路电压（V）模式，但是因为输出电阻较小（1kHz的2.2uF量程以上为1Ω，除此以外的条件下为20Ω），所以相比其他机型，具备开路端子电压≒测试电压的测试样品的阻抗低的特点。
测量条件的设置例
参数 大容量的被测物为Cs-D，小容量的被测物为Cp-D
频率 请参考下表
直流偏压 OFF
信号电平 额定电压以下
测量量程 AUTO
速度 SLOW2
LowZ模式 OFF
※其他为初始设置。
※这是测量范例。由于最适合的条件根据被测物不同会有差异，因此请使用者自行决定。
JIS C5101-21用于表面贴装的定瓷电容器种类1 温度补偿型（CH、C0G等）（IEC30384-21）
参数 额定静电容量 额定电压 测试频率 测试电压※1 直流偏压
C，D（tan δ） C≤1000pF 全部 1MHz或100kHz（标准1MHz） 5Vrms以下 无
C>1000pF kHz或100kHz（标准1kHz）
JIS C5101-22用于表面贴装的定瓷电容器种类2 高介电常数型（B、X5R等）（IEC30384-22）
参数 额定静电容量 额定电压 测试频率 测试电压※1 直流偏压
C，D（tan δ） C≤1000pF 全部 1MHz 1.0±0.2Vrms 无
1000pF<C≤10uF 超过6.3V 1KHz 1.0±0.2Vrms
6.3V以下 1KHz 0.5±0.2Vrms
C>10uF 全部 100Hz或120Hz 0.5±0.2Vrms
※1 测试电压（=外加在测试样品上的电压）是通过输出电阻和测试样品对开路端子电压进行分压的电压。
※2测试电压（=外加在测试样品上的电压）可以通过开路端子电压、输出电阻、测试样品的阻抗进行计算。
※3 测试样品的阻抗不确定时或测量偏差较大的多个测试样品时使用CV模式更方便。
关于高介电常数型的电容
温度特性表示为B、X5R、X7R等的电容中使用了介电常数较高的材料。
高介电常数型的电阻不仅能够实现小型大容量，而且还具有容量根据测试电压和温度变化较大的特点。
测量仪器的介绍
适用于生产线
型号 测量频率 产品特点
3504-40 120Hz，1kHz 最适合用于大容量电容测量通过恒压回路进行高速CV测量
3504-50
3504-60
3506-10 1kHz，1MHz 最适用于小容量电容测量重复精度高
适用于研发、验货等
型号 测量频率 产品特点
IM3570 DC，4Hz~5MHz 分析模式下进行扫频
参数（Cs和Cp）的确定方法
各频率下的阻抗的大致标准（D较小时）
电容的等效电路
大容量的电容：因为C的阻抗较低，所以可以忽略Rp。设为串联等效电路。
小容量的电容：因为C的阻抗较高，所以可以忽略Rs。设为并联等效电路。
一般来说，测量如大容量电容这类低阻抗元件（约100Ω以下）时，使用串联等效电路模式，测量如小容量电容这类高阻抗元件（约10kΩ以上）时，使用并联等效电路模式。约100Ω～10kΩ的阻抗等等效电路模式不确定时，请和元器件的制造商进行确认。
实际的电容如图所示串联的Rs、并联的Rp连接到理想电容C进行工作。通常Rp会非常大（MΩ以上），Rs会非常小（几Ω以下）。理想电容的电抗可以通过电容和频率，按照Xc＝1/j 2πf C[Ω]来计算。Xc较小时，Rp和C并联的阻抗≒Xc。另一方面，Xc较小的话，则不能忽略Rs，因此整体上可以视作Xc和Rs的串联等效电路。Xc较大时则相反，不能忽略Rp，但可以忽略Rs，这样就变成了并联等效电路。
开路电压（V）模式和恒压（CV）模式的区别
开路电压是指测试样品没有进行连接时Hc端子产生的电压。将开路电压用输出电阻和测试样品分压后的电压外加在测试样品上。
恒压（CV）模式下设置测试样品两端的电压。使用IM35xx读取电压的监视值，软件上反馈后作为CV。使用3504-xx的话在硬件（模拟电路）上设置CV，因此可以高速进行恒压测量。3506-10虽然仅有开路电压（V）模式，但是因为输出电阻较小（1kHz的2.2uF量程以上为1Ω，除此以外的条件下为20Ω），所以相比其他机型，具备开路端子电压≒测试电压的测试样品的阻抗低的特点。
