1台仪器实现不同测量条件下的高速检查● 1台仪器实现LCR测量,DCR测量,扫描测量等的连续测量和高速检查● LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量● 基本精度±0.08%的高精度测量● 适用于压电元件的共振特性检查,功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈,变压器)的DCR和L-Q的测量● 分析仪模式下可进行扫频测量,电平扫描测量,时间间隔测量● 可以用于无线充电评价系统TS2400
阻抗分析仪 IM3570 | HIOKI(日置)阻抗分析仪-智丰电子
