简介
AFM探针由于应用范围仅限于原子力显微镜，属于高科技仪器的耗材，应用领域不广，全世界的使用量也不多。主要的生产厂家分布在德国，瑞士，保加利亚，美国等。由于原子力显微镜的探针寿命短，分辨率不高也不稳定且一致性差，各国都在开发新型探针。
随着AFM技术的发展，各种新应用不断涌现。具体包括如下技术：
（1） 接触模式是最早的模式，探针和样品直接接触，探针容易磨损，因此要求探针较软，即悬臂的弹性系数小，一般小于1N；
（2） 轻敲模式：探针在外力驱动下共振，探针部分振动位置进入力曲线的排斥区，因此探针间隙性的接触样品表面。探针要求很高的悬臂弹性系数来避免与样品表面的微层水膜咬死。轻敲模式对样品作用力小，对软样品特别有利于提高分辨率。同时探针的寿命也较接触模式的稍长。各种模式和应用要求性能各异的探针，而探针的性能指标是决定显微镜分辨率的最关键的因素。
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