磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在理论使用中，低碳钢磁性的变化可以以为是细微的），为了避免热解决和冷加工要素的影响，应使用与试件基体金属具有类似性质的规范片对涂层测厚仪履行校准；亦可用待涂覆试件履行校准。
2.基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材质成分及热解决方式相干。使用与试件基体金属具有相异性质的规范片对仪器履行校准。
3.基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。
4.边缘效应
涂层测厚仪对试件外外表形状的陡变敏感。因此在接近试件边缘或内转角处履行测量是不可靠的。
5.曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的增加明显地增大。因此，在弯曲试件的外外表上测量是不靠谱的。
6.试件的变形
测头会使软笼罩层试件变形，因此在这些试件上不能测出正确的数据。
7.外表糙毛糙度
基体金属和笼罩层的外外表粗糙水平对测量有影响。粗糙水平增大，影响增大。粗糙外外表会致使零碎误差和偶然误差，每次测量时，在不同中央上应添加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度类似的基体金属试件上取几个地位校对涂层测厚仪的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去笼罩层后，再校对涂层测厚仪的零点。
8.磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地预扰磁性法测厚任务。
9.附着物质
涂层测厚仪对那些阻碍测头与笼罩层外外表紧密接触的附着物质敏感，因此，必须打消附着物质，以保证仪器测头和被测试件外外表间接接触。
10.测头压力和侧头取向
测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要维持压力恒定。测头的安放方式对测量有影响。涂层测厚仪在测量中，应当使测头与试样外外表维持垂直。
2.基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材质成分及热解决方式相干。使用与试件基体金属具有相异性质的规范片对仪器履行校准。
3.基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。
4.边缘效应
涂层测厚仪对试件外外表形状的陡变敏感。因此在接近试件边缘或内转角处履行测量是不可靠的。
5.曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的增加明显地增大。因此，在弯曲试件的外外表上测量是不靠谱的。
6.试件的变形
测头会使软笼罩层试件变形，因此在这些试件上不能测出正确的数据。
7.外表糙毛糙度
基体金属和笼罩层的外外表粗糙水平对测量有影响。粗糙水平增大，影响增大。粗糙外外表会致使零碎误差和偶然误差，每次测量时，在不同中央上应添加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度类似的基体金属试件上取几个地位校对涂层测厚仪的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去笼罩层后，再校对涂层测厚仪的零点。
8.磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地预扰磁性法测厚任务。
9.附着物质
涂层测厚仪对那些阻碍测头与笼罩层外外表紧密接触的附着物质敏感，因此，必须打消附着物质，以保证仪器测头和被测试件外外表间接接触。
10.测头压力和侧头取向
测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要维持压力恒定。测头的安放方式对测量有影响。涂层测厚仪在测量中，应当使测头与试样外外表维持垂直。
