中冷TS-780系列高低温测试机可与爱德万 advantest，泰瑞达 teradyne，惠瑞捷 verigy 测试系统，是德keysight仪器联用，进行半导体芯片高低温测试。半导体芯片温度测试主要是做芯片的温度冲击和温度循环测试。
TS-780 提供循环测试温度：-80°C 至 +225°C，温变变化速率快（-55℃至+225℃;≤10s），成功完成芯片的高低温循环测试，疲劳失效测试。
TS-780 提供 2 种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode，温度显示精度：±1°C (通过CANS认证单位校准) ，不需要液态氮气 (N2) 或液态二氧化碳 (CO2)冷却。