超精细，超小间距IC测试探针
170um( 0.17mm) 极细测试间距的弹簧测试探针
极细测试探针通常测试非常靠近的测试点，在目前主流的BGA和B2B连接器上采用大量的极小间距的测试探针，我们能提供多种细小间距的弹簧测试探针，并且具备优秀的能力。
高电流测试能力
高频率
高速传输
夹层组装夹具或插座设计
高精度
减少材料浪费
稳定的接触，经久耐用
J1158

J1552