分光光度计是一种很实用的光学仪器，它的应用比较广泛。今天为大家推荐两款优秀的分光光度计，欢迎大家近期积极订购，本月下单可享原价福利！下月购买这些仪器可要大幅涨价了哦！
Photon RT紫外-可见-中波红外膜层透反仪
Photon RT是专门为光学镀膜测试设计的仪器。内建宽谱带高对比自动偏光镜可以对紫外（185nm）到中波红外（5200nm）波段实现多角度和偏振态精确测量。
产品优点
宽光谱测量：紫外（185nm）到中波红外（5200nm）波段实现变角度和偏振态测量
标定：一键标定，测量透过率/反射率过程中光的入射角度改变时，无需进行基线再校准
步进精度：样品台和光电探测器配备的高精度旋转驱动，其步进角度为0.01°
可自动进行探测器横向位置补偿（±50mm），用于进行厚样品的轴外透过率测试以及复杂棱镜的透过率、反射率测试
内置氮气吹扫管道
色坐标计算（CIE 1931,CIE 1964,及其它光源）
可选配批量测试或位置可调夹具
可对单层均质膜进行NKD计算
变角度测试及位移补偿
探测器横向补偿范围可达±50mm，平面样品可使用软件自带的计算功能计算位置偏差
多功能夹具
可选波段范围
1.185-1700
2.380-1700
3.185-3500
4.380-3500
5.380-3500
6.185-5200
Photon rt红外光源与卤素灯基线对比
红外光源与卤素灯测试曲线对比(铝膜）
红外光源与卤素灯测试曲线对比(宽带滤光片)
内置高对比度宽带起偏器
配置：
380-2200nm
220-2200nm
2000-5200nm（独家）
380-5200nm（独家）
起偏器出厂前已内置于设备，
可通过软件控制
多角度测量及定性和定量的膜层分析
LINZA150镜片/镜头组测试分光光度计
产品功能与特点
可对单镜片（凹/凸）进行快速轴上透过率测试
可对镜头组进行快速的轴上测试
可对凸/凹面镜的任意区域进行无人值守的轴上/轴外反射率测试
不需任何配件
产品特性
测量镜头最大/小孔径
透射：10-150mm
反射：10-90mm
反射率测试样品曲率半径范围：15mm-∞
透过率测试样品焦距范围：20 mm-∞
透过率测试最大镜头尺寸:240 mm（L）×150mm(⌀)
离轴最大测量反射转角:55°
有效波长范围,nm:380-1700 nm,185-1700 nm,
AKRA单波长光控设备
为监控镀膜沉积过程设计
光谱范围200-5000nm
IRIS宽波段光控设备
光谱范围190-2450nm
特别提醒
刚接到原厂通知！因生产成本关系，以上产品的价格即将大幅度上涨！请对本产品有兴趣的客户立即联系我们的业务经理在有限期间内下单锁定原价格体系！
咨询与订购方式
联系人：光研科技南京有限公司徐保平
手机号：15051861513
微信号：13627124798
Photon RT紫外-可见-中波红外膜层透反仪
Photon RT是专门为光学镀膜测试设计的仪器。内建宽谱带高对比自动偏光镜可以对紫外（185nm）到中波红外（5200nm）波段实现多角度和偏振态精确测量。
产品优点
宽光谱测量：紫外（185nm）到中波红外（5200nm）波段实现变角度和偏振态测量
标定：一键标定，测量透过率/反射率过程中光的入射角度改变时，无需进行基线再校准
步进精度：样品台和光电探测器配备的高精度旋转驱动，其步进角度为0.01°
可自动进行探测器横向位置补偿（±50mm），用于进行厚样品的轴外透过率测试以及复杂棱镜的透过率、反射率测试
内置氮气吹扫管道
色坐标计算（CIE 1931,CIE 1964,及其它光源）
可选配批量测试或位置可调夹具
可对单层均质膜进行NKD计算
变角度测试及位移补偿
探测器横向补偿范围可达±50mm，平面样品可使用软件自带的计算功能计算位置偏差
多功能夹具
可选波段范围
1.185-1700
2.380-1700
3.185-3500
4.380-3500
5.380-3500
6.185-5200
Photon rt红外光源与卤素灯基线对比
红外光源与卤素灯测试曲线对比(铝膜）
红外光源与卤素灯测试曲线对比(宽带滤光片)
内置高对比度宽带起偏器
配置：
380-2200nm
220-2200nm
2000-5200nm（独家）
380-5200nm（独家）
起偏器出厂前已内置于设备，
可通过软件控制
多角度测量及定性和定量的膜层分析
LINZA150镜片/镜头组测试分光光度计
产品功能与特点
可对单镜片（凹/凸）进行快速轴上透过率测试
可对镜头组进行快速的轴上测试
可对凸/凹面镜的任意区域进行无人值守的轴上/轴外反射率测试
不需任何配件
产品特性
测量镜头最大/小孔径
透射：10-150mm
反射：10-90mm
反射率测试样品曲率半径范围：15mm-∞
透过率测试样品焦距范围：20 mm-∞
透过率测试最大镜头尺寸:240 mm（L）×150mm(⌀)
离轴最大测量反射转角:55°
有效波长范围,nm:380-1700 nm,185-1700 nm,
AKRA单波长光控设备
为监控镀膜沉积过程设计
光谱范围200-5000nm
IRIS宽波段光控设备
光谱范围190-2450nm
特别提醒
刚接到原厂通知！因生产成本关系，以上产品的价格即将大幅度上涨！请对本产品有兴趣的客户立即联系我们的业务经理在有限期间内下单锁定原价格体系！
咨询与订购方式
联系人：光研科技南京有限公司徐保平
手机号：15051861513
微信号：13627124798
