AEC,Automotive Electronics Council，汽车电子委员会，由美国三大汽车公司（Chrysler / Ford / GM）联合发起，并于1994年创立，会员分布于全球车厂、汽车电子模组厂和元器件厂商。
AEC Q102，车用光电器件基于失效机制的应力测试资格，由AEC委员会制定，适用于车用光电器件的综合可靠性测试认证标准，是光电器件应用于汽车领域的基本门槛。
适用产品：LED、激光组件、激光元件、光电二极管、光电晶体管、发光二极管、光导管、光电池、光电三极管、热敏电阳、温差发电器、温差电致冷器。光敏电阻、红外光源、光电耦合器、发光数字管、使用光电功能和其他组件(例如带集成电路的LED、带光电二极管的激光组件.光耦)的多芯片模块。
AEC-Q102 标准定义了汽车电子所有内外使用的分立光电半导体元器件(目前主要是车用LED、激光器件、激光二极管、激光三极管、光电二极管/三极管、光电耦合器、OE-MCM（AEC-Q102-003）)的最低应力测试要求和测试条件，其每项测试都是针对车用光电器件所可能遭受的严酷环境来设计的，以保护行车时的安全性。
AEC-Q102测试流程
AEC Q102目前最新版本是2020年的A版，在原有测试项目的基础上稍微有些调整，如WHTOL1、WHTOL2，不再要求Tsolder焊点温度的管控（实践中比较困难），而是以Tambient温度为试验基准；增加了Board Flex板弯曲测试，补充了SMD器件结构强度的试验要求，该要求对于光电器件企业来说可能稍微陌生…
在AEC Q102标准中，基本原则是根据器件类型、封装形貌等特征，执行并通过必要的测试项目，可参考如下：
测试项目分类：
l各项参数测试：如光电性能测试、外观、参数验证、物理尺寸、热阻等l环境应力实验：按照军用电子器件环境适应性标准和汽车电子通用环境适应性标准，执行器件的应力实验，如高温工作、高温反偏、高温高湿工作、高温高湿反偏、温度循环、功率温度循环、间歇工作寿命、低温工作寿命、脉冲工作、振动、冲击、气密性、凝露、硫化氢、混合气体等
l工艺质量评价：针对封装、后续电子组装工艺，以及使用可靠性进行的相应元器件工艺质量评价，如ESD、DPA、端子强度、耐焊接热、可焊性、绑线拉力剪切力、芯片推力、晶须生长等
AEC-Q102测试项目
AEC Q102测试项目列表
AEC Q102 Rev A, April 6 2020
华碧实验室能力范围及AEC-Q102技术要求
序号 测试项目 缩写 测试方法
A组 加速环境应力试验
A1 预处理 PC JEDEC JESD22-A113
A2a 高温湿工作寿命1 WHTOL1 JEDECJESD22-A101
A2b 高温湿工作寿命2 WHTOL2 JEDECJESD22-A101
A2c 高湿度高温反向偏压 H3TRB JEDECJESD22-A101
A3a 功率温度循环 PTC JEDECJESD22-A105
A3b 间歇使用寿命 IOL MIL-STD-750-1 Method 1037
A4 温度循环 TC JEDECJESD22-A104
B组 加速寿命应力试验
B1a 高温使用寿命1 HTOL1 JEDECJESD22-A108
B1b 高温使用寿命2 HTOL2 JEDECJESD22-A108
B1c 高温反向偏压 HTRB JEDECJESD22-A108
B2 低温使用寿命 LTOL JEDECJESD22-A108
B3 脉冲寿命 PLT JEDECJESD22-A108
C组 封装组合完整性测试
C1 破坏性物理分析 DPA Appendix 6
C2 物理尺寸 PD JEDEC JESD22-B100
C3 邦线强度 WBP MIL-STD-750-2 Method 2037
C4 邦线剪切 WBS JESD22-B116
C5 芯片剪切 DS MIL-STD-750-2 Method 2017
C6 端子强度 TS MIL-STD-750-2 Method 2036
C7 凝露 DEW AEC-Q102-001
C8 耐焊接热 RSH(-wave) Leadcontaining devices perJESD22-B106Lead (Pb)-freedevicesperAEC-Q005
C9 热阻 TR JEDECJESD51-50 JESD51-51JESD51-52
C10 可焊性 SD JEDEC J-STD-002 or IEC 60068-2-58(SMD)IEC60068-2-20(Through hole)
C11 晶须生长 WG AEC-Q005
C12 硫化氢 H2S IEC 60068-2-43
C13 混合气流测试 FMG IEC 60068-2- 60 Test method 4
C14 板弯曲 BF AEC-Q102-002
E组 光电验证试验
E0 目检 EV JEDEC JESD22-B101
E1 应力前后电气和光度试验 TEST Section2.3.7&User specificationorsupplier'sstandard specification
E2 参数验证 PV IndividualAEC user specification
E3 静电放电特性HBM HBM ANSI/ESDA/JEDEC JS-001
E4 静电放电特性CDM CDM AEC-Q101-005
G组 空腔封装完整性测试
G1 恒定加速度 CA MIL-STD-750-2Method 2006
G2 变频振动 VVF JEDEC JESD22-B103 Condition 1
G3 机械冲击 MS JEDEC JESD22-B110
G4 密封性 HER JEDEC JESD22-A109
新部件可靠性试验标准流程
现有合格部件的评估流程
华碧实验室车规电子AEC-Q102检测认证
华碧实验室是国内领先的集检测、鉴定、认证和研发为一体的第三方检测与分析的新型综合实验室，目前已成功协助300多家汽车光电半导体企业制定相对应的AEC-Q102验证步骤与实验方法，并顺利通过AEC-Q系列认证。
华碧实验室提供专业的光电器件、光电模块、光电显示、激光组件的完整分析服务，服务能力和项目覆盖全球车厂和一供，并建立持续紧密的合作关系，是AEC-Q测试认证的最佳合作伙伴，华碧能够为光电半导体提供一站式测试认证服务：
l开发测试计划：依据产品使用条件和质量指标,定义符合车电测试和认证计划;
l测试方案开发
l测试夹具评估和制作
l测试程序开发和调试
l失效分析和改善建议
l整合AEC-Q102 测试报告
l产品认证证书
l技术顾问：提供定制化项目开发，包含光电模组部分
AEC Q102，车用光电器件基于失效机制的应力测试资格，由AEC委员会制定，适用于车用光电器件的综合可靠性测试认证标准，是光电器件应用于汽车领域的基本门槛。
适用产品：LED、激光组件、激光元件、光电二极管、光电晶体管、发光二极管、光导管、光电池、光电三极管、热敏电阳、温差发电器、温差电致冷器。光敏电阻、红外光源、光电耦合器、发光数字管、使用光电功能和其他组件(例如带集成电路的LED、带光电二极管的激光组件.光耦)的多芯片模块。
AEC-Q102 标准定义了汽车电子所有内外使用的分立光电半导体元器件(目前主要是车用LED、激光器件、激光二极管、激光三极管、光电二极管/三极管、光电耦合器、OE-MCM（AEC-Q102-003）)的最低应力测试要求和测试条件，其每项测试都是针对车用光电器件所可能遭受的严酷环境来设计的，以保护行车时的安全性。
AEC-Q102测试流程
AEC Q102目前最新版本是2020年的A版，在原有测试项目的基础上稍微有些调整，如WHTOL1、WHTOL2，不再要求Tsolder焊点温度的管控（实践中比较困难），而是以Tambient温度为试验基准；增加了Board Flex板弯曲测试，补充了SMD器件结构强度的试验要求，该要求对于光电器件企业来说可能稍微陌生…
在AEC Q102标准中，基本原则是根据器件类型、封装形貌等特征，执行并通过必要的测试项目，可参考如下：
测试项目分类：
l各项参数测试：如光电性能测试、外观、参数验证、物理尺寸、热阻等l环境应力实验：按照军用电子器件环境适应性标准和汽车电子通用环境适应性标准，执行器件的应力实验，如高温工作、高温反偏、高温高湿工作、高温高湿反偏、温度循环、功率温度循环、间歇工作寿命、低温工作寿命、脉冲工作、振动、冲击、气密性、凝露、硫化氢、混合气体等
l工艺质量评价：针对封装、后续电子组装工艺，以及使用可靠性进行的相应元器件工艺质量评价，如ESD、DPA、端子强度、耐焊接热、可焊性、绑线拉力剪切力、芯片推力、晶须生长等
AEC-Q102测试项目
AEC Q102测试项目列表
AEC Q102 Rev A, April 6 2020
华碧实验室能力范围及AEC-Q102技术要求
序号 测试项目 缩写 测试方法
A组 加速环境应力试验
A1 预处理 PC JEDEC JESD22-A113
A2a 高温湿工作寿命1 WHTOL1 JEDECJESD22-A101
A2b 高温湿工作寿命2 WHTOL2 JEDECJESD22-A101
A2c 高湿度高温反向偏压 H3TRB JEDECJESD22-A101
A3a 功率温度循环 PTC JEDECJESD22-A105
A3b 间歇使用寿命 IOL MIL-STD-750-1 Method 1037
A4 温度循环 TC JEDECJESD22-A104
B组 加速寿命应力试验
B1a 高温使用寿命1 HTOL1 JEDECJESD22-A108
B1b 高温使用寿命2 HTOL2 JEDECJESD22-A108
B1c 高温反向偏压 HTRB JEDECJESD22-A108
B2 低温使用寿命 LTOL JEDECJESD22-A108
B3 脉冲寿命 PLT JEDECJESD22-A108
C组 封装组合完整性测试
C1 破坏性物理分析 DPA Appendix 6
C2 物理尺寸 PD JEDEC JESD22-B100
C3 邦线强度 WBP MIL-STD-750-2 Method 2037
C4 邦线剪切 WBS JESD22-B116
C5 芯片剪切 DS MIL-STD-750-2 Method 2017
C6 端子强度 TS MIL-STD-750-2 Method 2036
C7 凝露 DEW AEC-Q102-001
C8 耐焊接热 RSH(-wave) Leadcontaining devices perJESD22-B106Lead (Pb)-freedevicesperAEC-Q005
C9 热阻 TR JEDECJESD51-50 JESD51-51JESD51-52
C10 可焊性 SD JEDEC J-STD-002 or IEC 60068-2-58(SMD)IEC60068-2-20(Through hole)
C11 晶须生长 WG AEC-Q005
C12 硫化氢 H2S IEC 60068-2-43
C13 混合气流测试 FMG IEC 60068-2- 60 Test method 4
C14 板弯曲 BF AEC-Q102-002
E组 光电验证试验
E0 目检 EV JEDEC JESD22-B101
E1 应力前后电气和光度试验 TEST Section2.3.7&User specificationorsupplier'sstandard specification
E2 参数验证 PV IndividualAEC user specification
E3 静电放电特性HBM HBM ANSI/ESDA/JEDEC JS-001
E4 静电放电特性CDM CDM AEC-Q101-005
G组 空腔封装完整性测试
G1 恒定加速度 CA MIL-STD-750-2Method 2006
G2 变频振动 VVF JEDEC JESD22-B103 Condition 1
G3 机械冲击 MS JEDEC JESD22-B110
G4 密封性 HER JEDEC JESD22-A109
新部件可靠性试验标准流程
现有合格部件的评估流程
华碧实验室车规电子AEC-Q102检测认证
华碧实验室是国内领先的集检测、鉴定、认证和研发为一体的第三方检测与分析的新型综合实验室，目前已成功协助300多家汽车光电半导体企业制定相对应的AEC-Q102验证步骤与实验方法，并顺利通过AEC-Q系列认证。
华碧实验室提供专业的光电器件、光电模块、光电显示、激光组件的完整分析服务，服务能力和项目覆盖全球车厂和一供，并建立持续紧密的合作关系，是AEC-Q测试认证的最佳合作伙伴，华碧能够为光电半导体提供一站式测试认证服务：
l开发测试计划：依据产品使用条件和质量指标,定义符合车电测试和认证计划;
l测试方案开发
l测试夹具评估和制作
l测试程序开发和调试
l失效分析和改善建议
l整合AEC-Q102 测试报告
l产品认证证书
l技术顾问：提供定制化项目开发，包含光电模组部分
