电场强度与电荷面密度之间的关系可以通过高斯定理来描述。高斯定理表明，通过一个封闭曲面的电通量等于该曲面内的电荷密度之和。因此，对于一个平行板电容器，假设其两个平行平板之间的距离为d，电荷面密度为σ，则电场强度E可以表示为E=σ/ε0，其中ε0为真空介电常数。这表明，电场强度与电荷面密度成正比。当电荷面密度增加时，电场强度也会随之增加。