XAD-200是一款全元素上照式荧光光谱仪，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的膜厚性能，又可满足RoHS有害元素检测及成分分析，搭载全自动平台实现XYZ轴编程位移，实现无人值守多点测量，测量软件置入先进的EFP算法及解谱技术，解决了诸多业界难题。
被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
1）搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统，最小测量面积达0.03mm²
2）拥有无损变焦检测技术，手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm
3）核心EFP算法，可对多层多元素，包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析（钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精准检测第一层Ni和第三层Ni的厚度）
4）配备全自动可编程移动平台，可实现无人值守，对成百上千个样品进行全自动检测
5）涂镀层分析范围：锂Li（3）- 铀U（92）
6）成分分析范围：铝Al（13）- 铀U（92）
7）RoHS、卤素有害元素检测
8）人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作
9）标配四准直器自动切换
10）配有微光聚集技术，最近测距光斑扩散度小于10%