基于5G/6G光通信带来的流量与速率的提升及物联网、云计算所带来的数据中心大规模快速发展，400G光模块毅然成下一代光通信网络与新一代数据中心的主流方案，其核心的光芯片带宽从50/67GHz慢慢向110GHz演变。其中也不乏问题的出现，为解决大带宽光芯片的频响测试问题，思仪科技突破多项核心技术，强势推出了Ceyear 6433P光波元件分析仪(Lightwave Component Analyzer, LCA)，产品调制频率范围覆盖10MHz~110GHz，频率响应重复性±1.2dB，能够完成光芯片的带宽、平坦度、电反射等频响参数的测量。
光芯片研发与生产中，对带宽、电反射等指标的测试，能够精准评估芯片的性能。6433P按照被测芯片的类型，配对对应的光电/电光转换模块，使用超宽频带1.0mm同轴连接，构建“微波-电/光-光/电-微波”的测试链路，进而实现针对电光及光电芯片的频响测试解决方案，如下图所展示的为电光芯片（电光调制器芯片）频响测试解决方案。

【电光调制器芯片频响测试解决方案】
6433P集成电电(E/E)、电光(E/O)、光电(O/E)与光光(O/O)四种测试功能模式，功能模式之间可以一键切换，便于使用者结合测试场景，完成电光芯片（EAM、EAL等）、光电芯片（PIN、APD等）、光光芯片（EDFA、SOA等）及电电芯片（放大器芯片、混频器芯片等）频响参数的精确测量，如下图1所示，以光电探测器芯片为案例，6433P利用搭配探针台、高频探针，利用仪器自带的校准端面管理功能，提取高频探针的s2p文件，将此文件利用射频去嵌入功能，消除探针对测试链路的影响，进而完成被测件的测量。

【图1探测器芯片测试框图】
使用电光器件S11、S21参数及光电器件S22、S21参数的测试，通过多窗口对比、3dB带宽分析等，使用者便可以获得测试对象各频点的反射参数、传输参数等频响特性，以此来达到科研、产品线等测试需求。

【探测器芯片的S21曲线】

【探测器芯片的S22曲线】
6433P的调制频率可下探至500Hz，能够达到使用者低频段测试需求；最小1Hz的频率分辨率与最高200001点的测量点数，可以带来更丰富的频点信息与更精细的测量结果；自身所配备的四端口机型能够完成平衡光发射或是光接收芯片对差分增益参数的测试需求；配备的LAN、GPIB远程控制接口及SCPI指令集，辅助系统集成及自动化测试提供有力的保障。
6433P光波元件分析仪具备宽频带同轴覆盖、测试功能丰富、一键式快速扫频等性优势，具备出色的微波及光电特性。灵活的硬件配置与丰富的软件功能互补，可以辅助使用者解决光芯片频响测试难题。
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