接触式高低温设备是针对芯片可靠性测试而研发的专用设备。该设备通过测试头与待测器件（DUT，Device Under Test）直接贴合的方式实现能量传递，从而实现对芯片的高低温测试。这种方式相比传统气流式高低温设备（如热流仪、温箱等）具有更高的升降温效率和操作便捷性。
主要特点
升降温效率高：由于采用直接接触的方式传递能量，因此升降温速度更快，节省工程师的时间，提高测试效率。
操作简单方便：设备设计简洁，操作界面友好，工程师可以轻松设置参数并进行测试。
体积小巧：相比传统的高低温测试设备，接触式高低温设备体积更小，更易于在实验室或生产线中部署。
噪音低：设备运行时的噪音较低，为工程师创造一个安静的工作环境。
高精度温度控制：设备采用先进的温度控制系统，可以实现高精度的温度控制，确保测试结果的准确性。
应用场景
桌面手动测试：适用于工程师在实验室中进行的手动测试。
配合测试机使用：可以与ATE（Automatic Test Equipment）等自动测试设备配合使用，实现自动化测试。
自动化测试设备集成：可以集成到自动化测试系统中，实现大规模、高效率的芯片测试。
接触式高低温冲击机：温度范围-70℃至+200℃，具有高效率的热头设计和灵活性，不同热头尖端以适应不同的IC尺寸和接口变化。