一、主体框架结构
1.基座部分
基座是翻盖旋扭测试座的基础支撑部件，通常采用高强度金属材料制作，如铝合金。铝合金具有质量较轻但强度较高的特性，能够为整个测试座提供稳定的承载平台。其表面一般会进行特殊处理，如阳极氧化处理，以增强其耐腐蚀性和耐磨性，确保在长期使用过程中不会因环境因素而损坏。基座的形状设计会根据测试座的具体用途和所适配的被测器件形状有所不同，常见的有矩形和圆形等，并且会预留出足够的空间用于安装其他组件。
2.翻盖组件
翻盖是测试座中可活动的部分，它与基座通过铰链连接。翻盖的材质一般选用工程塑料或轻质金属，工程塑料如聚碳酸酯（PC），具有良好的绝缘性和韧性，能够在频繁开合过程中不易损坏。翻盖的主要作用是在测试时可以方便地打开和关闭，当翻盖关闭时，能够对被测器件形成一定的压力，确保其与测试座内部的探针等部件良好接触。翻盖的开合角度通常是经过设计的，一般在90度到180度之间，以满足不同的操作需求。有些翻盖还会带有锁定装置，当翻盖关闭到特定位置时可以自动锁定，防止在测试过程中因意外而打开。
二、核心连接与测试部件
1.探针组件
探针是测试座实现电气连接的关键部件。探针的材质多为铍铜合金，这种材料具有良好的导电性和弹性。探针的顶端通常非常尖锐，以便能够穿透被测器件表面的氧化层或涂层，与内部的电路实现精准接触。探针的内部结构设计复杂，一般包括针头、针杆和针尾等部分。针头负责与被测器件接触，针杆则传递信号，针尾则与测试设备的线路连接。在探针组件中，会有多个探针按照特定的排列方式组合在一起，形成探针阵列，以适应不同引脚数量和布局的被测器件。例如，对于一些集成电路芯片测试座，可能会有上百个探针组成的阵列，每个探针都需要精确地定位和安装，确保与芯片引脚的一一对应。
2.旋钮与传动机构
旋钮是用于调节测试座某些参数或功能的操作部件。旋钮的材质常见为塑料或金属，表面会有防滑纹理，方便用户操作。旋钮与测试座内部的传动机构相连，传动机构可以是齿轮传动、丝杠传动等不同类型。通过旋转旋钮，传动机构会将旋转运动转化为直线运动或其他形式的运动，从而实现对测试座内部部件的位置调整或功能切换。例如，在一些测试座中，旋钮可以调节探针的升降高度，以适应不同厚度的被测器件。传动机构的设计需要保证精度和可靠性，减少运动过程中的摩擦和间隙，确保旋钮的操作能够准确地反映在测试座的功能变化上。
三、辅助与定位部件
1.定位销与定位槽
定位销和定位槽是用于确保被测器件在测试座中准确安装位置的部件。定位销一般安装在基座上，而定位槽则位于翻盖或被测器件的适配板上。当翻盖关闭时，定位销会插入定位槽中，将被测器件精确地固定在测试座内，防止其在测试过程中发生位移。定位销和定位槽的尺寸精度要求非常高，通常需要采用精密加工工艺制作，如数控加工、电火花加工等，以保证其配合精度在微米级别。例如，对于一些微小尺寸的芯片测试座，定位销和定位槽的直径可能只有零点几毫米，任何微小的偏差都可能导致芯片与探针接触不良，影响测试结果。
2.缓冲与防护部件
为了保护被测器件和测试座内部部件，在测试座中会设置缓冲与防护部件。例如，在翻盖与基座接触的部位会安装橡胶缓冲垫，当翻盖关闭时，缓冲垫可以吸收冲击力，防止因压力过大而损坏被测器件或测试座。在探针周围也可能会有防护套，防护套一般采用绝缘材料制作，如硅胶。防护套可以防止探针在非测试状态下受到碰撞或短路，同时也能避免操作人员误触探针而发生触电危险。这些缓冲与防护部件虽然看似不起眼，但对于延长测试座和被测器件的使用寿命、提高测试的安全性有着重要的作用。
翻盖旋扭测试座的构成是一个有机的整体，各个部件相互配合、协同工作，共同完成对被测器件的测试任务。了解其构成对于正确使用、维护测试座以及进行相关测试工作有着重要的意义。
深圳市欣同达科技有限公司成立于2016年,是集研发.生产.销售为一体的高新技术企业。专注研发生产:芯片测试座,老化座,ATE测试座,烧录座,客制化Socket,开尔文测试座,ic测试架。适用于：BGA.QNF.DFN.QFP.SOP.LGA.等封装测试插座
1.基座部分
基座是翻盖旋扭测试座的基础支撑部件，通常采用高强度金属材料制作，如铝合金。铝合金具有质量较轻但强度较高的特性，能够为整个测试座提供稳定的承载平台。其表面一般会进行特殊处理，如阳极氧化处理，以增强其耐腐蚀性和耐磨性，确保在长期使用过程中不会因环境因素而损坏。基座的形状设计会根据测试座的具体用途和所适配的被测器件形状有所不同，常见的有矩形和圆形等，并且会预留出足够的空间用于安装其他组件。
2.翻盖组件
翻盖是测试座中可活动的部分，它与基座通过铰链连接。翻盖的材质一般选用工程塑料或轻质金属，工程塑料如聚碳酸酯（PC），具有良好的绝缘性和韧性，能够在频繁开合过程中不易损坏。翻盖的主要作用是在测试时可以方便地打开和关闭，当翻盖关闭时，能够对被测器件形成一定的压力，确保其与测试座内部的探针等部件良好接触。翻盖的开合角度通常是经过设计的，一般在90度到180度之间，以满足不同的操作需求。有些翻盖还会带有锁定装置，当翻盖关闭到特定位置时可以自动锁定，防止在测试过程中因意外而打开。
二、核心连接与测试部件
1.探针组件
探针是测试座实现电气连接的关键部件。探针的材质多为铍铜合金，这种材料具有良好的导电性和弹性。探针的顶端通常非常尖锐，以便能够穿透被测器件表面的氧化层或涂层，与内部的电路实现精准接触。探针的内部结构设计复杂，一般包括针头、针杆和针尾等部分。针头负责与被测器件接触，针杆则传递信号，针尾则与测试设备的线路连接。在探针组件中，会有多个探针按照特定的排列方式组合在一起，形成探针阵列，以适应不同引脚数量和布局的被测器件。例如，对于一些集成电路芯片测试座，可能会有上百个探针组成的阵列，每个探针都需要精确地定位和安装，确保与芯片引脚的一一对应。
2.旋钮与传动机构
旋钮是用于调节测试座某些参数或功能的操作部件。旋钮的材质常见为塑料或金属，表面会有防滑纹理，方便用户操作。旋钮与测试座内部的传动机构相连，传动机构可以是齿轮传动、丝杠传动等不同类型。通过旋转旋钮，传动机构会将旋转运动转化为直线运动或其他形式的运动，从而实现对测试座内部部件的位置调整或功能切换。例如，在一些测试座中，旋钮可以调节探针的升降高度，以适应不同厚度的被测器件。传动机构的设计需要保证精度和可靠性，减少运动过程中的摩擦和间隙，确保旋钮的操作能够准确地反映在测试座的功能变化上。
三、辅助与定位部件
1.定位销与定位槽
定位销和定位槽是用于确保被测器件在测试座中准确安装位置的部件。定位销一般安装在基座上，而定位槽则位于翻盖或被测器件的适配板上。当翻盖关闭时，定位销会插入定位槽中，将被测器件精确地固定在测试座内，防止其在测试过程中发生位移。定位销和定位槽的尺寸精度要求非常高，通常需要采用精密加工工艺制作，如数控加工、电火花加工等，以保证其配合精度在微米级别。例如，对于一些微小尺寸的芯片测试座，定位销和定位槽的直径可能只有零点几毫米，任何微小的偏差都可能导致芯片与探针接触不良，影响测试结果。
2.缓冲与防护部件
为了保护被测器件和测试座内部部件，在测试座中会设置缓冲与防护部件。例如，在翻盖与基座接触的部位会安装橡胶缓冲垫，当翻盖关闭时，缓冲垫可以吸收冲击力，防止因压力过大而损坏被测器件或测试座。在探针周围也可能会有防护套，防护套一般采用绝缘材料制作，如硅胶。防护套可以防止探针在非测试状态下受到碰撞或短路，同时也能避免操作人员误触探针而发生触电危险。这些缓冲与防护部件虽然看似不起眼，但对于延长测试座和被测器件的使用寿命、提高测试的安全性有着重要的作用。
翻盖旋扭测试座的构成是一个有机的整体，各个部件相互配合、协同工作，共同完成对被测器件的测试任务。了解其构成对于正确使用、维护测试座以及进行相关测试工作有着重要的意义。
深圳市欣同达科技有限公司成立于2016年,是集研发.生产.销售为一体的高新技术企业。专注研发生产:芯片测试座,老化座,ATE测试座,烧录座,客制化Socket,开尔文测试座,ic测试架。适用于：BGA.QNF.DFN.QFP.SOP.LGA.等封装测试插座
