HAST高加速应力试验，是一种用于评估产品在高温、高湿以及高压条件下的可靠性和寿命的测试方法。该测试通过在受控的压力容器内设定特定的温湿度条件，模拟产品在恶劣环境下的性能表现。HAST试验能够加速老化过程，如迁移、腐蚀、绝缘劣化和材料老化，从而缩短产品可靠性评估的测试周期，节约时间和成本。
HAST测试的目的是三个方面：首先，评估芯片在高温高湿环境下的稳定性，以确保芯片能够在恶劣的应用环境中长时间稳定工作；其次，检测可能由高温高湿引起的问题，例如热膨胀导致的焊接破裂或金属线断裂，以及腐蚀引起的电气连接问题；最后，验证芯片的可靠性，以提供给制造商和客户可靠的产品性能数据。