BHAST（Biased Highly Accelerated Stress Test）在测试过程中引入了偏置电压，使被测器件在经受高温高湿环境的同时，还承受一定的电应力。这种双重应力的叠加作用，旨在加速器件内部的腐蚀过程，从而进一步缩短测试周期，提高测试效率。在测试过程中，所有电源均需上电，且电压需设置在最大推荐操作范围内，以确保器件在偏压下的稳定性。同时，为了降低功耗，数字部分可能不翻转，输入晶振短接，以及其他降功耗措施也会被采用。此外，输入管脚和其他关键管脚（如时钟端、复位端、输出管脚）在测试过程中会被随机拉高或拉低，以模拟实际工作场景中的电信号变化。