高低温冲击热流仪的相关数据
温度范围:高低温冲击热流仪的有效温度范围可达-80℃至+225℃(不同型号可能有所不同),能够满足各种高低温冲击测试的需求。
气流量:该设备的气流量可高达18SCFM,能够确保在测试过程中提供足够的冷热空气流量,从而实现对芯片的快速温度冲击。
测试时间:由于温度变化速率快,从-55℃到+125℃的转换约10秒,因此测试时间大大缩短。这意味着在相同的时间内,可以进行更多的测试循环,从而提高测试效率。
测试精度:由于控温精度高且显示精度高,因此测试结果的准确性也得到了很大的保障。用户可以根据测试结果对芯片的性能进行准确的评估和改进。
温度范围:高低温冲击热流仪的有效温度范围可达-80℃至+225℃(不同型号可能有所不同),能够满足各种高低温冲击测试的需求。
气流量:该设备的气流量可高达18SCFM,能够确保在测试过程中提供足够的冷热空气流量,从而实现对芯片的快速温度冲击。
测试时间:由于温度变化速率快,从-55℃到+125℃的转换约10秒,因此测试时间大大缩短。这意味着在相同的时间内,可以进行更多的测试循环,从而提高测试效率。
测试精度:由于控温精度高且显示精度高,因此测试结果的准确性也得到了很大的保障。用户可以根据测试结果对芯片的性能进行准确的评估和改进。