BiasHAST测试系统，也称为高加速寿命偏压老化测试系统，是一种用于评估电子元件在高压、高温、不饱和/饱和湿热等环境下的可靠性和寿命的试验设备。以下是关于BiasHAST测试系统的详细信息：
一、概述
应用领域：适用于IC封装、半导体、微电子芯片、磁性材料及其他电子零件。
测试目的：通过模拟恶劣环境条件下的工作状况，快速暴露产品的缺陷和薄弱环节，测试其制品的密封性和老化性能。
二、系统特点
1. 每颗器件的Vgs独立控制：允许对每个被测试器件进行独立的电压控制。
2. 实时监测：系统能够实时检测每个试验器件的Id、Ig等参数。
3. 控制上、下电时序：提供精确的上电和下电控制功能。
4. 数据保存与输出：全过程试验数据保存于硬盘中，支持Excel格式输出和绘制全过程漏电流IR变化曲线。
5. 漏电流超限保护：当被测材料实时漏电流超出设定时，自动切断被测材料的电压，以保护被测元件不被进一步烧毁。
三、系统应用
主要应用于二极管、三极管、MOSFET、IGBT、SBD、GaN Fet、SCR以及各种封装形式的射频场效应管、射频功率器件进行温湿度下的反偏试验。