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0HAST偏压老化测试,即高加速应力测试(Highly Accelerated Stress Test),在电子产品的生产和研发过程中具有很高的必要性,具体包含哪些? 1. 全面评估产品可靠性:HAST试验通过模拟电子产品在实际应用中可能面临的不良环境条件(如高温、高湿、高盐雾等),来评估产品的可靠性和稳定性。这种全面、多角度的测试方式有助于发现产品潜在的缺陷和问题,确保产品在实际应用中的性能和质量。 2. 缩短测试周期:传统的可靠性测试方法往往需要长时间的
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0中冷低温 三温测试台ATC860通过接触头与DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温或者结温)调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用socket的芯片,可以真正做到只控制待测芯片温度而不影响外围电路,排除外围电路引起的不确定性。 三温测试台ATC860主要特点: (1)广泛的温度范围,涵盖大多数半导体,电子工业,汽车和商业的测试要求。 (2)温度之间的快速转换循环。 (3)内部热电偶空气温度控制和监测。 (4)外部热电
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0中冷低温热流仪TS系列搭配是德B1500系列功率分析仪进行功率器件高低温测试。 设计人员现在可以使用TS系列热流仪在-100℃ - +350℃宽温度范围内对 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件自动化热测试解决方案。可直接与Keysight B1500系列集成,以限度地减少在将较长电缆布线到外部温度测试设备时引入的测量问题。 热流仪(-70至+225°C)满足高热和低温测试应用的需求,实现对IGBTs 和MOSFETs 之类的power device 的温度特性测试。
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0PCT(Pressure Cooker Test,压力锅测试)和HAST(Highly Accelerated Stress Test,高加速应力测试)是两种不同的高压加速老化试验箱,它们在以下方面存在显著的区别: 1. 测试环境: PCT:在常温下进行测试,主要考察产品在高压高湿环境下的性能。测试环境的湿度通常控制在100%RH(相对湿度),以模拟严苛的饱和湿度环境。 HAST:在高温高压环境下进行测试,主要考察产品在高温高湿条件下的耐久性和耐热性。测试温度范围通常在+105℃至+150℃之间,湿度范围在
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1ThermoTST热流罩应用于照明级大功率 LED 器件, LED 封装的可靠性测试.大功率 LED 器件测试方法: LED 通电测试, 单次测试一块板子, 循环 3-5 分钟即可完成测试. ThermoTST热流罩满足客户要求的测试温度 -55℃~150℃ , 变温速率 -55至 +125°C 约10 s, 温度精度±0.1℃, 根据我们测试治具 T-Cap 的特殊尺寸, 对产品做了全方位的设计,目前测试非常成功.
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0芯片的HAST测试是一种集成电路(IC)行业中常用的可靠性测试方法。它通过将芯片置于高温高湿环境下,模拟芯片在实际应用中可能面临的恶劣条件,以评估芯片的稳定性和可靠性。HAST测试的主要原理是通过高温和高湿度加速芯片老化过程,从而更早地暴露出潜在的问题。 针对HAST测试,测试座在配合测试时需要注意以下几个方面: 耐高温高湿性能:HAST测试中,温度通常在100°C至150°C之间,湿度高达85%至95%。因此,测试座需要具备良好的耐高温高湿
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0ECM-HAST绝缘电阻劣化(离子迁移CAF) 评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。在高温高湿条件下,对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值,也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。 特点 1. 高机能:该系统采用高端驱动
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0HAST老化试验箱的用途非常广,主要用于模拟产品在高温高湿及压力(可选)条件下的使用环境,以加速产品的老化过程,从而评估其耐久性和可靠性。 HAST老化试验箱应用于电子、光电、化工、汽车、航空航天等多个领域,具体材料和应用包括: 多层电路板(PCB):测试其在高温高湿环境下的耐久性和稳定性。 IC封装:评估IC封装材料在高温高湿及压力条件下的密封性能和可靠性。 液晶屏(LCD):测试液晶屏在高温高湿环境下的显示效果和耐久性。 L
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0接触式冷热冲击试验机ATC860 通过测试头与DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温或者结温)调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用socket的芯片,可以真正做到只控制待测芯片温度而不影响外围电路,排除外围电路引起的不确定性。 接触式冷热冲击试验机ATC860 特点: 有效温度范围,-70℃至+200℃ 温度稳定性±0.5℃ 触摸屏操作,人机交互界面 支持DUT温度控制 桌面设计,低噪音、低震动、低环境散热 温度波动小 低温环境测试
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0高低温冲击热流仪的相关数据 温度范围:高低温冲击热流仪的有效温度范围可达-80℃至+225℃(不同型号可能有所不同),能够满足各种高低温冲击测试的需求。 气流量:该设备的气流量可高达18SCFM,能够确保在测试过程中提供足够的冷热空气流量,从而实现对芯片的快速温度冲击。 测试时间:由于温度变化速率快,从-55℃到+125℃的转换约10秒,因此测试时间大大缩短。这意味着在相同的时间内,可以进行更多的测试循环,从而提高测试效率。 测试
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0Mechanical Devices开发生产并向主要半导体器件制造商提供创新的成本效益热控制单元,以测试IC器件。其中,Max TC广泛应用于芯片可靠性测试领域,包括但不限于材料特性分析、温度循环测试、快速温变测试、温度冲击测试以及失效分析等可靠性试验。它特别适用于对芯片进行高温、低温或高低温环境下的性能测试,以确保芯片在各种恶劣条件下的稳定性和可靠性。 提供全国范围内的Max TC接触式高低温冲击机设备故障的快速支持,并可在我们的工厂进行
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2有没有熟悉chroma机台的大佬协助开发一下测试程序,价格和方式肯定能满意,跪求感兴趣的大佬联系
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0IGBT模块是新能源汽车三电系统里相当值钱的重要部件,电机控制器核心元件。搭载接触式高低温冲击机对其进行高低温试验,模拟外界温度变化对IGBT的影响,验证器件或模块的整体结构和材料的可靠性。 接触式高低温冲击机拥有-70~200℃的测温范围,通过定制的冷盘直接与被测件接触,试验精度更高,满足IGBT温度冲击试验的要求,同时也能做特性分析,高低温温变测试,失效分析等可靠性试验。
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0HAST是Highly Accelerated Stress Test的简称,中文名为高加速应力试验(高加速温湿度应力测试)。是一种用于评估产品在高温、高湿以及高压条件下的可靠性和寿命的测试方法。 HAST可以快速激发 PCB 和芯片的特定失效,例如分层、开裂、短路、腐蚀及爆米花效应。 湿气所引起的故障原因:水汽渗入、聚合物材料解聚、聚合物结合能力下降、腐蚀、空洞、线焊点脱开、引线间漏电、芯片与芯片粘片层脱开、焊盘腐蚀、金属化或引线间短路。 水汽进入IC封装的
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0高低温冲击搭配液晶显示屏测量系统试验 热流仪搭配液晶显示屏测量高低温系统试验ThermoTST高低温冲击热流仪, 兼容各品牌光学检测设备, 提供显示行业 LCD, LCM, TV, monitor, OLED 器件, OLED 模组, Micro LED, Mini LED, 车载显示, LED Light Bar, 背光模组等器件在高低温环境下的光学性能测试。 高低温冲击搭配液晶显示屏测量系统试验 高低温环境下 OLED 器件光学性能测试系统 热流仪TS580B与德国Instrument Systems DMS 液晶显示屏测量系统(原AUTRONIC-MELCHERS)联用进行 LED 高低
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