敲重点！DC-Link薄膜电容的特点↓↓↓
a) 容量高，可高达1000μF甚至更高
b) 频率特性稳定，产品高频特性好，工作频率约为10kHz
c) 低ESR(串联等效电阻)，最小可达0.2-0.5mΩ，甚至更小，耐纹波电流能力强
d) 低ESL(串联等效电感)，最低可达＜10nH，减小了在开关频率下的震荡效应，因此可忽略掉吸收电容
e) 产品安全性好，耐过压能力强，抗浪涌电压能力大于1.5倍的额定电压
f) 没有极性，能承受反向电压
g) 额定电压可达800V以上，不需要串联和平衡电阻

提问&解答
Q：如何精准且快速测试DC-Link？
A：这是一个世界性难题。在以往，测试大电容的常见方法一般有两种，分别为：
一、高低频测试法：

由图一可以看到实际电容的阻抗频率特性与理想电容式完全不同，由图二可以看到随着频率增加，XL=ωL和Zc是越来越接近的，通常理论认为，当频率越高，一般为1MHz或者更高的时候，根据阻抗计算公式：

先用低频去测试 Cs、Rs(ESR)，然后用高频测试 Ls(ESL)，Rs(ESR)。这种测试方法要求高低两种测试频率必须远离谐振点，才能降低 Ls(ESL)，Cs 造成的误差影响。
举个例子：经常有客户用1MHz去测试大电容来得到 Ls(ESL) 值，但因为 Cs 的存在，同时 1MHz 这个频率离谐振点并不足够远，所以这种方法测试得到的 Cs，Ls(ESL) 这两个值都只能算是近似值，精度有限，但同惠TH2840、TH2838H和TH2829系列都可以给您一份满意的测试结果。
二、谐振法：
根据阻抗频率图，我们可以看到大电容的谐振点阻抗最低，所以用扫频仪产生信号源，同时测试电容的阻抗，寻找谐振点，然后通过计算就能算出 Cs 和 Ls(ESL)。
这种方法对扫频源产生的信号源要求很高，要求步进频率越小越好，同时对阻抗的测试要求也很高，因为是扫频，步进频率小，测试要求非常高，所以测试速度很慢，一般实验室使用，很少应用到生产线上。与此同时，由于测试的时候没有专用的四端测试夹具，即使计算出来了Cs、Rs（ESR）、Ls（ESL），结果也不一定准确，但TH2839、TH2851都克服了这类问题，均可以为您进行精密的阻抗分析。

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