在半导体器件、超导材料和光电器件等测试领域中,为了更全面地检测器件特性,提升整个测试系统的效率,往往对供给电源和测量同步性方面有更严格的要求,不仅要高效率高精度,而且要更便捷。
TH199X系列精密源/测量单元(SMU)将高功率、高精度、高速源测量功能集成到单个仪器上,可以在四个象限内执行出色的电流/电压输出与测量,并具备直流、扫描、脉冲等多样化功能,使您能够执行各种不同的功能以及通过同一针脚进行各种不同的设备测试,这不仅简化了连接,而且减少了使用仪器的种类和数量,降低了测试系统的占地空间和总体成本。